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2022-12

高低温试验箱试验方法的应用对比
高低温试验箱试验方法的应用对比
高低温试验箱试验方法的应用对比,高低温试验箱的试验方法分为非散热试验样品和散热试验样品(即被测样品是否有热值,业界常说)。以下是各种试验方法的应用比较:非散热试样和散热试样:在条件试验期间,当在自由空气条件下(即无强制空气循环)测量时,试样温度达到稳定后,试验样品表面最热点温度高于周围大气温度5度以上,这被视为散热,否则,对于所有贮存试验和试验期间无电源或负载的试验,它是非散热试验样品,试样为非散热试样,试验采用低温试验方法。
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2022-12

GB-T2423.15-2008试验Ga和导则:稳态加速度
GB-T2423.15-2008试验Ga和导则:稳态加速度
GB-T2423.15-2008试验Ga和导则:稳态加速度 ,当采用离心机产生稳态加速度时,加速度的方向是指向旋转系统中心的,在某些特殊情况下,由于某些样品对回转力偶可能敏感,而只能采用一种能够产生直线加速度的机器进行这种试验时,有关规范应对此加以说明。
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2022-11

GBT 5170.13-2018 环境试验设备检验方法 第13部分:振动(正弦)试验用机械式振动系统
GBT 5170.13-2018 环境试验设备检验方法 第13部分:振动(正弦)试验用机械式振动系统
​GBT 5170.13-2018 环境试验设备检验方法 第13部分:振动(正弦)试验用机械式振动系统,GB/T 5170 的本部分规定了振动(正弦)试验用机械式振动系统(以下简称振动系统)的特性要求测量仪器测量不确定度、检验负载、检验条件、检验方法、检验结果、检验周期等内容。本部分适用于 节能恒温恒湿试验箱厂家GB/T 2423.10 振动试验用振动系统的检验。本部分也适用于类似试验设备的检验
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2022-11

5G半导体芯片器件的高温试验怎么做
5G半导体芯片器件的高温试验怎么做
广东德瑞检测与5G半导体芯片器件行业近年合作频繁,5G半导体芯片器件是导电性介于良导电体与绝缘体之间,利用半导体材料特殊电特性来完成特定功能的电子器件,可用来产生、控制、接收、变换、放大信号和进行能量转换。今天就来看一下,星拓环境试验设备在半导体器件行业的应用。
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2022-11

GBT 5170.11-2017 环境试验设备检验方法 第11部分:腐蚀气体试验设备
GBT 5170.11-2017 环境试验设备检验方法 第11部分:腐蚀气体试验设备
GBT 5170.11-2017 环境试验设备检验方法 第11部分:腐蚀气体试验设备(以下简称“设备”)的检验项目检验用仪器及要求、检验负载、检验条件、检验方法、检验结果、检验周期等内容。本部分适用于对GB/T 2423,19 和 GB/T 2423.20 所用设备的检验本部分也适用于类似设备的检验,GB/T 2423.19 环境试验 第2部分试验方法 试验 Kc;接触点和连接件的二化硫试验GB/T 2423.20 环境试验 第2 部分:试验方法 试验 Kd;接触点和连接件的硫化试验GB/T5170.1一
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2022-11

88届中国国际医药原料药/中间体/包装/设备交易会即将开幕
88届中国国际医药原料药/中间体/包装/设备交易会即将开幕
来自全国约1200余家参展商,5000家制药上下游企业,60000次的参观人次,更有30多场会议,百位行业知名大咖参与,第88届中国国际医药原料药/中间体/包装/设备交易会将于12月6-8日在青岛世博城国际展览中心举办。展会将以创新与高质量发展为主线,汇集中国制药行业广阔的资源与人脉,展示全球药品研发、生产领域最新技术与产品,打造涵盖药品生产全生命周期、全产业链的交流合作平台。
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2022-11

影响温度冲击试验箱温度均匀性的六大因素
影响温度冲击试验箱温度均匀性的六大因素
影响温度冲击试验箱温度均匀性的六大因素,温度冲击试验箱通常是用来模拟测试产品温度变化和湿度恒定的环境。工业产品采用高温、低温湿热试验和低温可靠性试验。电子电工、汽车摩托车、航空航天、船舶武器、高校、科研机构等相关产品的零部件和材料.在低温(交变)循环变化情况下进行低温、高温试验和恒温试验,检测其性能参数。
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2022-11

GB-T2423.20-2014试验Kd接触点和连接件的硫化氢试验方法
GB-T2423.20-2014试验Kd接触点和连接件的硫化氢试验方法
GB-T2423.20-2014试验Kd接触点和连接件的硫化氢试验方法 为评价用于接触点和连接件的银 和银合金变色提供了一种加速试验方法尤其适用于作对比试验不宜作为通用腐蚀试验,即它可能无法预测接触点和连接件在工业大气中的腐蚀行为注:鉴于加速腐蚀试验获得的信息有限,应特别注意 GB/T 2424,12 给出的本试验导则。并参考 GB/T 2424.10。本试验的目的是a) 确定含硫化的大气对下面材料制成的接触点和连接件的接触特性的影响:银或银合;
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2022-11

GB-T2423.23-2013 环境试验 第2部分:试验方法 试验Q:密封国家标准规范
GB-T2423.23-2013 环境试验 第2部分:试验方法 试验Q:密封国家标准规范
GB-T2423.23-2013 环境试验 第2部分:试验方法 试验Q:密封国家标准规范范围GB/T 2423 的本部分规定了各种密封性能试验方法,试验 QaQc 是粗检,观察从漏隙中冒出的气泡;试验 Qd 是在加温条件下观察液体的渗漏;试验 Qy 是在降压的条件下使气体通过漏隙进入试验箱然后测量试验箱的性能变化;试验 Qk,Q 是用示踪气体检测细;试验 QQ 是在加压条件下使液通过漏隙进人其中,然后测量其性能变化。本部分适用于检测各种电工电子产品的密封性能,也适用于其他密封零部件的密封性检测
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2022-11

GBT 5170.10-2017 环境试验设备检验方法 第10部分:高低温低气压试验设备
GBT 5170.10-2017 环境试验设备检验方法 第10部分:高低温低气压试验设备
GBT 5170.10-2017 环境试验设备检验方法 第10部分:高低温低气压试验设备GB/T 5170 的本部分规定了高低温低气压(含低气压低温低气压和高温低气压)试验设备(以下简称“设备”)的检验项目,检验用仪器及要求、检验负载、检验条件、检验方法、检验结果、检验周期等内容。本部分适用于对GB/T 2423.21 GB/T 2423.25和 GB/T 2423.2 所用设备的检验本部分也适用于类似设备的检验。
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2022-11

GBT 5170.9-2017 环境试验设备检验方法 第9部分:太阳辐射试验设备
GBT 5170.9-2017 环境试验设备检验方法 第9部分:太阳辐射试验设备
GBT 5170.9-2017 环境试验设备检验方法 第9部分:太阳辐射试验设备GB/T 5170 的本部分规定了太阳辐射试验设备(以下简称“设备”)的检验项目检验用仪器及要求、检验负载、检验条件、检验方法、检验结果,检验周期等内容。本部分适用于对GB/T2423.24 所用设备的检验。本部分也适用于类似设备的检验
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2022-11

环境可靠性试验设备引发产品故障率分析
环境可靠性试验设备引发产品故障率分析
可靠性试验设备实施可靠性试验时,是选取任务环境剖面中对工程产品可靠性指标影响最大的少数几个环境因素。1971年美国对沿海基地机载电子设备全年的故障进行失效分析,统计结果得出由于环境因素引发的故障占总故障数的52.7%,各种环境因素引发故障的比例为:环境试验箱由温度引发的故障占总故障数的22%由振动引发的故障占总故障数的11.38%
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