GB-T2423.36-2005试验ZBFc散热和非散热样品的高温振动(正弦)综合试验方法.pdf【点击可下载】
目的
提供一个标准的试验程序以确定散热和非散热元器件、设备或其他产品在高温与振动综合条件下使用,贮存和运输的适应性。
2 环境实验设备厂家一般说明
本试验是试验 B;高和试验 Fc:振动正的综合试验
注:试验 B 和 Bd 要求在条件试的升温和降温过程中温度变化速率不超过 1 K/mi(5 mn 平均)对于经受热击的试验样品(常是指能经受试验 a 的并能经受试验 N 和 N 快速温度变化的试验样品)不受最大温变化速率 1 K/min 的限制，对于这些试验样品，可以使用能满足试验 B 或 e(度突变)条件的试验额试验样品除非已进行过试验 B 和 Fc(并记录其试结果)否则应首先在试验室温度条件下进行折动试验，然后经受高温试验，达到温度稳定后，试验样品再经受振动和高温的综合试验。试验剖面见图 1和图 2。
振动环境可以是以下一种或几种:
a快速温变试验箱耐扫频试验
b) 振动响应调查，以及振动响应检查得出额率上的耐久试验c) 预定赖率上的耐久试验。
3试验设备
3.1 试验箱的要求
3.11 非散热试验样品的试验
这类节能快速温变试验箱应满足试验 Ba 或 B 中给出的要求(见第 2 章注)3.1.2 散热试验样品的试验
温度监测点的选择和监训温度的确定,可在满足下述条件 a)或者 b)的试验箱(或室)中进行。a在高温条件下,提供强迫空气循环的试验箱，能模拟“自由空气”条件的影响，并满足
GB/T 2423.2一2001中试验 Bd 第103的要求。b) 试验箱(或室)能保护试验样品不受太阳辐照及通风的干扰(见 5.1.2)这种试验使用的试验箱,通常应有强迫空气循环，应满足 GB/T 2423.2--2001 中试验 B 和试验Bd 所给出的要求《见第 2章注)。
32振动系统的要求
3.2.1 安装
应满足试验 Fc中给出的安装要求。然而，如果振动台台面温度因试验样品散热而与试验箱的环境温度不同,则振动台上试验样品的安装件应具有低的热传导性,最好是绝热的
注1: 试验 F 照了GB/T 2423,43 的安装要求，包括了安装在绝热体上的试验样品的指南
注 2:在安装绝热组件时应注意,在试验的频率范围内不要使试验样品及其安装件的动力学特性有显著的变化3.2.2 振动系统
振动系统应满足试验 Fe 中给出的要求。
GB/T 2423.36-2005/IEC 60068-2-511983
4严酷等级
大容量快速温变试验箱振动幅值、频率范围和持续时间的严酷等级，应从试验 Fe 所给出的优选数值中选取，温度应从试验B 中所给出的优选数值中选取。
试验样品达到温度稳定时就开始耐久试验。
温度监测点的选择和监测温度的确定(仅适用于散热试验样品)5
5.1无人工冷却的试验样品
5.11使用在高温条件下能模拟“自由空气条件”影响的试验箱
5.1.11将试验样品放进满足 312a)规定的试验箱内并通电
5.1.1.2 然后将试验箱内的温度调节到相应的试验严酷等级上,并使试验样品达到温度稳定注1，环境温度的定义见GB/T 2422 --1995 4.4
注2:混度稳定的定义见GB/T 2422-1995 48
5.1.1.3 环境试验箱运用安全防范只要有可能就应按有关标准的定测定试验样品暴露于周空气中的最热点，并把它选作温度监测点，记录这一点的混度，并确定监测温度。
注1;如果试验样品有多种工作方式，可以引起不同的表面混度，监测点和监测温度通常根据产生最高温度的工作
状态来确定。
注 2:确定温度监测点的费用会很高，例如具有复杂构的大型试验样品就是如此，对于这种情况，推养采用有关标准中规定的温度监测点。
5.12使用仅在试验室温度下才能模拟“自由空气条件”影响的试验箱(室)
如果试验箱在高温时不能模拟“自由空气条件”的影响，则可以在试验室温度下使用下述程序选择
温度监测点和确定监测温度。5.1.21 试验样品应该放进满足 51.2 b)规定的试验箱(室)内并通电。5.1.2.2要保证试验样品达到温度稳定。然后确定样品暴露到周围空气中的最热点，并作为温度监测点。
5G半导体芯片器件的高温试验怎么做测量该点的温度和试验箱(室)的温度。
5.1.2.3用GB/T 2423.2-2001 附录B的“环境温度校正计算图”确定试验的监测温度
5.2 人工冷却的试验样品
5.2.1一般防护措施、术语等见试验 Bd 的对应章条
5.2.2冷却系统与试验销分开:温度监测点和监测源度按 5.1.1确定在此情况下不能用5.1.2 中的备选方法。
5.2.3 冷却系统与试验箱不分开应按 5.2.2 选择温度监测点和确定监测温度所不同的是从试验籍进入试验样品的空气进气点应是温度监测点，而该点测得的温度应是监测温度。
