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2022-07

GB-T2423.34-2012 环境试验 第2部分试验方法 试验ZAD温度湿度组合循环试验
GB-T2423.34-2012 环境试验 第2部分试验方法 试验ZAD温度湿度组合循环试验
GB-T2423.34-2012 环境试验 第2部分试验方法 试验ZAD温度湿度组合循环试验.pdf环境试验第2部分:试验方法试验Z/AD:温度/湿度组合循环试验1范围GB/T2423的本部分提供了一-种组合试验方法,主要用于元器件类试验样品,以加速方式来确定试验样品在高温/高湿和低温条件劣化作用下的耐受性能.2规范性引用文件下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注8期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。IEC 6006
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2022-07

GB-T2423.26-2008试验Z∕BM:高温∕低气压综合试验
GB-T2423.26-2008试验Z∕BM:高温∕低气压综合试验
GBT2423.26-2008试验标准,GBT2423.26试验标准,高温∕低气压综合试验标准,GB/T2423的本部分是关于散热和非散热试验样品高温(温度断交或突变)和低气压综合试瞼,见8.2.2和8.2.8.本试验目的是确定元件、设备和其他产晶对其贮存和使用中遇到的高温-低气压综合环境的透:应性。本综合试验通常只有在试验样品进行单-环境试验不能揭示综合环境影响时使用。本部分规定的试验程序只适用于在试验期间能够达到温度稳定的试验样品。本部分规定的试验方法-次只能试验- - 个散热试验样品。本试验程序适用
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2022-07

GJB150.2A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第2部分:低气压(高度)试验
GJB150.2A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第2部分:低气压(高度)试验
下列文件中的有关条款遒过引用而成为本部分的条款。凡注8期或版次的引用文件,其后的任何修改单(不包括勘误的内容)或修订版本都不适用于本部分,但提倡使用本部分的各方探讨使用其最新版本的可能性。凡不注日期或版次的引用文件,其最新版本适用于本部分。GJB 150.1A-2009军用装 备实验室环境试验方法第1 部分:通用要求GJB 150.3A-2009军用装备实验室环境试验方法第3 部分:高温试验GJB 150.24A- 2009军 用装备实验室环境试验方法第 24部分:温度-湿度-振动-高度试验GJB 423
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2022-07

GJB150.1A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第1部分:通用要求
GJB150.1A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第1部分:通用要求
GJB150.1A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第1部分:通用要求:本部分规定了军用装备实验室环境试验的标准大气条件、水的纯度、试验条件的允差、试验温度的稳定、试验准备、基线数据、试验相关信息利试验报告的内容、环境效应和失效判据、监控和监测:还规定了对测试设备、试验顾序、确定试验条件、试验中断的处理、综合环境试验、结果分析的通用要求。本部分适用于军用装备的实验室环境试验。
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2022-07

GBT2423.24-2013 环境试验 第2部分试验方法 试验Sa模拟地面上的太阳辐射及其试验导则
GBT2423.24-2013 环境试验 第2部分试验方法 试验Sa模拟地面上的太阳辐射及其试验导则
GB/T2423的本部分提供对设备或部件在太阳辐射条件下试验的指导。试验目的是为了检查设备或部件受太阳辐射影响的程度。综合试验的方法可检测电。机械或其他物理性能的变化..
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2022-07

GBT2423.25-2008试验Z/AM:低温/低气压综合试验标准
GBT2423.25-2008试验Z/AM:低温/低气压综合试验标准
GB/T2423的本部分是关于敞热和非散热试验样品低温(温度渐变或突变)和低气压综合试验,见8.2.2和8.2.8.本试验目的是确定元件、设备和其他产晶对其贮存和使用中遇到的低温-低气压综合环境的适 应性。本综合试验通常只有在试验样品进行单--环境试验不能揭示综合环境影响时使用。本部分规定的试验程序只适用于在试验期间能够达到温度稳定的试验样品。本部分规定的试验方法-次只能试验一个散热试验样品。
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2022-06

GBT2423.23-2013 环境试验 第2部分:试验方法 试验Q:密封
GBT2423.23-2013 环境试验 第2部分:试验方法 试验Q:密封
GBT2423.23-2013 环境试验 第2部分:试验方法 试验Q:密封不良将会造成电工电子产品的漏气.漏液,从而降低其电性能,有时还会造成本身及附近产晶的腐蚀现象,甚至使产品破坏,丧失全部功能。由于使用条件不同,因此对产品的密封要求也不同,为了满足不同的密封要求.从面制定了不同的密封试验方法。
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2022-06

GB-T2423.22-2012试验N:温度变化试验方法
GB-T2423.22-2012试验N:温度变化试验方法
GB/T2423的本部分规定的试验用来确定元器件、设备或其他产品耐受环境温度快速变化的能力。实现这一目的所需的各温度下的暴露持续时间取决于试验样品的特性。电子设备和元器件中发生温度变化的情况很普遍。当设备未遁电时,其内部零件要比其外表面上的零件经受的温度变化慢。
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2022-06

GB-T2423.9-2001试验Cb:设备用恒定湿热
GB-T2423.9-2001试验Cb:设备用恒定湿热
本标准用于确定电工电子产品,主要是指设备在高湿条件下使用和储存的适应性。本试验主要用以观察试验样品在恒定温度。无凝露。经规定时间及高湿环境下的影响。本试验有数种不同温度、湿度和试验持续时间的严酷等级供选择使用。本试验可用于散热型及非散热型试验样品。本试验特别适用于大型设备或试验时可能与试验室外的测试装置有复杂连接的设备。这种连接需要一定的装配时间。在安装期间,可以不用预热或维持特定的试验条件。
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2022-06

GB-T2423.7-2018试验Ec和导则倾跌与翻倒(主要用于设备型样品)
GB-T2423.7-2018试验Ec和导则倾跌与翻倒(主要用于设备型样品)
GB/T2423的本部分给出了一-种用来模拟主要用于设备型样晶在使用过程中被剧烈搬动或维修时受到撞击、振动.跌落等粗率操作造成冲击效应的试验方法。模拟样品在作为松散约束的货物运输中受到的碰攛效应,需采用试验Ee;弹跳试验方法来评估;同样.模拟样品用于安装设备所受到的冲击效应,需采用试验Ea;冲击来评估。
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2022-06

GB-T2423.6-1995试验Eb和导则碰撞
GB-T2423.6-1995试验Eb和导则碰撞
本试验适用于元器件、设备和其他电工电子产晶(以下简称样品),这些样品在运输或使用期间可能遭受到重复冲击。碰撞试验也可作为确定样品在结构强度方面的满意设计的-种方法,或作为质量控制的手段。碰撞试验基本上在于使样品在碰撞试验机上经受具有规定的峰值加速度和持续时间的标准脉冲的重复冲击。注:术语“碰撞试验机”贯穿于本标准,但并不排除连加碰擅的其他方法。有关规范的编写者将在第11章中得知在规范中所要给出的内容并在附录A中给出必要的指导。
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2022-05

GB-T2423.5-2019试验Ea和导则冲击
GB-T2423.5-2019试验Ea和导则冲击
GB/T2423的本部分提供了确定样品经受规定严酷度的非重复或重复冲击能力的标准程序。本试验的日的是用来暴露机械薄弱环节和/或性能下降和冲击引起的累计损伤和退化情况,并且利用这些资料,结合有关规范,来决定样品是否可以接收。在某些情况下,本冲击试验也可以用来确定样品的结构完好性.或作为质量控制的手段(见A.2)。
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